newshub
DGIST 연구팀이 반도체 공정을 활용해 머리카락보다 작은 초소형 광초음파 센서를 세계 최초로 개발했다. 이 센서는 비접촉 방식으로 미세 결함을 정밀하게 감지할 수 있어 반도체 및 의료 분야의 비파괴검사 혁신이 기대된다.
"국내 연구팀이 반도체나 이차전지 내부 결함을 찾아내는 비파괴검사 혁신 기술을 개발했다. 디지스트(DGIST·총장 이건우)는 로봇및기계전자공학과 한상윤·유재석 교수 공동 연구팀이 반도체 제조 공정을 활용해 머리카락 굵기보다 작은 초소형 광(光) 초음파 센서를 세계 최초로 개발했다고 1일 밝혔다."
newshub는 원문 전문을 게재하지 않습니다. 위 요약과 인용은 newshub가 정리한 것이며, 기사 전문과 저작권은 전자신문에 있습니다.